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陶瓷介质损耗和介电常数检测仪

产品简介

陶瓷介质损耗和介电常数检测仪介质损耗和介电常数仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准:GB/T5594.4-1985

产品型号:STD-A
更新时间:2025-10-30
厂商性质:生产厂家
访问量:16
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品牌YZYQ/钰展仪器价格区间面议
产地类别国产应用领域建材/家具,电子/电池,电气,综合


陶瓷介质损耗和介电常数检测仪

一、陶瓷介质损耗和介电常数检测仪概述

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准:GB/T5594.4-1985。

二、陶瓷介质损耗和介电常数检测仪仪器的技术指标

1.Q值测量

   a.Q值测量范围:2~1023;

   b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;

c.标称误差


QBG-3E

频率范围

10kHz~10MHz

固有误差

≤5%±满度值的2%

工作误差

≤7%±满度值的2%

频率范围

10MHz~70MHz

固有误差

≤6%±满度值的2%

工作误差

≤8%±满度值的2%

   

2.电感测量范围

QBG-3E

1nH~8.4H

3.电容测量


QBG-3E

直接测量范围

1~520p

主电容调节范围

30~550pF

准确度

100pF以下±1pF;

100pF以上±1%

   注:大于直接测量范围的电容测量见使用方法。

   4.信号源频率覆盖范围


QBG-3E

频率范围

10kHz~70MHz

CH1

10~99.9999kHz

CH2

100~999.999kHz

CH3

1~9.99999MHz

CH4

10~70MHz

频率指示误差

3×10-5±1个字

5.Q合格指示预置功能:预置范围:5~1000

   6.Q表正常工作条件

   a.  环境温度:0℃~+40℃;

   b.相对湿度:<80%;

   c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

   7.其他

   a.消耗功率:约25W;

   b.净重:约7kg;

 

三、介电常数测试方法与步骤

1. 把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容"两个端子上。



 

2. 在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz 时电感取100uH,15MHz时电感取1.5uH。

3. 被测样品要求为圆形,直径50.4--52mm/38.4--40mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间,样品太薄或太厚就会使测试精度下降,样品要尽可能平整。

4. 调节S916测试夹具的测微杆,使S916测试夹具的平板电容极片相接为止,按ZERO 清零按键,初始值设置为0。

1. 再松开两片极片,把被测样品夹入平板电容上下极片之间,调节S916测试夹具的测微杆,直到平板电容极片夹住样品止(注意调节时要用S916测试夹具的测微杆,以免夹得过紧或过松),这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2。改变主机上的主调电容容量(旋转主调电容旋钮改变主调电容电容量),使主机处于谐振点(Q值最大值)上。

2. 取出S916测试夹具中的样品,这时主机又失去谐振(Q值变小),此时调节S916测试夹具的测微杆,使主机再回到谐振点(Q值最大值)上,读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4.

3. 计算被测样品的介电常数:

     Σ=D2 / D4

 

二 介质损耗测试方法与步骤

1. 分布容量的测量

a) 选一个适当的谐振电感接到“Lx"的两端;

b) 将调谐电容器调到最大值附近500P左右,令这个电容是C1,

c) 按下仪器面板的频率搜索键,使测试回路谐振,谐振时Q的读数为Q1;

d) 将测试夹具接在“Cx"两端,放入材料,测出材料厚度后取出材料,调回到刚才材料厚度,调节主调电容,使测试电路重新谐振,此时可变电容器值为C2,Q值读数为Q2。

机构电容的有效电容为:Cz= C1-C2

分布电容为机构电容CZ和电感分布电容C0(参考电感的技术说明)的和电容器损耗角正切为


公式里的C0只是电感的分布电容值,不是主机软件显示的C0 

2. 把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容"两个端子上。

3. 在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz 时电感取100uH,15MHz时电感取1.5uH。

4. 被测样品要求为圆形,直径50.4--52mm/38.4--40mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间,样品太薄或太厚就会使测试精度下降,样品要尽可能平直。

5. 调节S916测试夹具的测微杆,使S916测试夹具的平板电容极片相接为止,按ZERO 清零按键,初始值设置为0。再松开两片极片,把被测样品夹入两片极片之间,调节S916测试夹具的测微杆,到的平板电容极片夹住样品止(注意调节时要用S916测试夹具的,以免夹得过紧或过松),这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2,改变主机上的主调电容容量,使主机处于谐振点(Q值最大值)上,然后按一次 主机上的小数点(tgδ)键,在显示屏上原电感显示位置上将显示C0= x x x,记住厚度D2的值。

6. 取出S916测试夹具中的样品,(保持S916测试夹具的平板电容极片之间距不变)这时主机又失去谐振(Q值变小),再改变主机上的主调电容容量,使主机重新处于谐振点(Q值最大值)上。

7. 第二次按下 主机上的小数点(tgδ)键,显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1,同时显示介质损耗系数tn =.x x x x x ,即完成测试。

8. 出错提示,当出现tn =  NO 显示时,说明测试时出现了差错,发生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的错误情况。



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